库存X5R和X7R电容复测前，为什么要记录时间与热历史？

库存X5R或X7R电容的容量读数低于预期时，不宜立刻将整批标为失效，也不能反过来直接写成“老化正常、可以放心使用”。先确认读到的是哪一种器件、在什么条件下测得，并尽可能保留时间与热历史，结果才有比较基础。

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容量变化不只有一种来源

村田的官方说明指出，高介电常数陶瓷电容存在容量随时间降低的老化特性；这与电压、温度和测量条件影响应分别核对。不能只见容量变小，就在未排除其他因素时指定唯一原因。

批次日期代码也不是“距上次热处理经过时间”的直接替代。DC、入库日期、最后已知热经历与本次测量时间，应保留为不同字段；没有记录就写未获取，不从标签推算一条看似完整的历史。

TDK关于去老化的FAQ说明，相关热处理会重置老化过程，但不会阻止之后再次老化，并提示记录最后加热时间。这里引用的是理解比较起点的方法，不是建议货主自行按网上温度和时长加热库存。

是否需要处理、采用什么条件、何时复测以及如何判断，应按具体厂商、系列资料和获确认方案执行。对未知经历的器件，不宜补写“已经恢复如新”，也不能把热处理当成修复机械损伤或证明可焊性的办法。

以上用于交接，不是新增统一挂售门槛。已有清单不必为凑齐表格猜填资料；保存原始记录，并把未知项留给后续核对。

准备处理这类余料时，可将现成清单与已有测量资料一并放入活库呆滞清单说明，注明哪些是已知事实、哪些仍待评估。提交资料不代表该批已通过检验或能够成交。

单次读数不足以作此结论。需核器件身份、规格条件、测量方式及已知经历，再由适当人员评价结果与后续用途。

不能。容量变化只涉及部分特性，不证明机械状态、可焊性、其他电性能或具体批次用途已经合格。